TRANSIENT PYROMETRY

瞬态多通道辐射测温系统

基于普朗克黑体辐射定律,实现对瞬态高温过程单点测量的高集成度、高响应速度测温平台。

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瞬态多通道辐射测温系统

APPLICATIONS

用途

瞬态多通道辐射测温系统是一款基于普朗克黑体辐射定律的高集成度、高响应速度测温平台。系统将高压电源、分光系统与光电探测器集成于一体,通过单根 SMA905 光纤采集待测目标辐射光,经分光后由多通道光电探测器(每个通道覆盖不同波长波段)同时记录辐射强度,结合普朗克公式与多波长拟合算法反演出温度-时间历程。系统采用模块化设计,4–32 通道可按需选择,覆盖 400–1700 nm 波长范围(可拓展至 200–2600 nm),响应时间低至 2 ns,是冲击物理、瞬态高温场测量、材料反应动力学等瞬态高温研究重要诊断工具。

01

冲击加载瞬态测温

用于轻气枪、激波管等冲击加载实验中靶材/飞片界面的瞬态温度实时测量,评估冲击加热与相变行为。

02

瞬态高温测量

测量瞬态高温过程随时间演化,为材料反应特性表征提供数据支撑。

03

材料反应温度

研究材料在冲击或热刺激下的反应动力学与放热特征。

04

激光/等离子体加工测温

用于激光焊接、激光烧蚀、等离子体喷涂等工业加工过程中的瞬态温度监测与控制。

CORE SPECIFICATIONS

核心参数

01测温范围1500–15000 K
02响应时间2 ns(typ)
03测温拟合不确定度≤1%(typ)
04通道数量4–32 通道

① 响应时间 2 ns(typ)为测温范围下限高于 3000 K 时的指标。多波长拟合方法有效降低单波长测温中发射率不确定度对温度反演的影响,拟合不确定度 ≤1%(typ)。

光学系统参数

波长范围400–1700 nm(可拓展为 200–2600 nm)
分光模式光栅分光 / 分光片分光
输入接口SMA905 单光纤输入
通道数4–32 通道

电学系统参数

输出接口BNC 标准接口
输出阻抗50 Ω
响应时间2 ns(typ)
高压电源内置集成

测温性能参数

测温范围1500–15000 K
测温拟合不确定度≤1%(typ)
测点数单点测温
测量原理多波长普朗克灰体拟合

SYSTEM FEATURES

系统特点

01

高压电源、分光、探测集成于一体,单光纤输入即插即用

02

光栅分光/分光片分光两种模式可选,适应不同实验需求

03

2 ns 超快响应时间,精确捕获微秒至纳秒级瞬态温度变化

04

配套多路数据处理软件,支持多通道数据同步处理与一键拟合

BUNDLED SOFTWARE

配套多路数据处理软件

01

可同时处理至多 32 通道数据

02

支持多路数据一次导入

03

支持预设参数导入导出功能

04

支持数据零基线自校准

05

温度与发射率一键拟合

06

支持温度&发射率历史拟合

07

通道动态开关功能

APPLICATION-DRIVEN CONFIGURATION

参数可根据实验需求定制

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